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X射線熒光光譜儀優勢慢慢講給你聽

點擊次數:223次  發布時間:2021-06-17
X射線熒光光譜儀具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結果,結果準確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。

X射線熒光光譜儀的產品特點:

1、在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出醉具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。

2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。

3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。

4、逃逸峰:由于采用的是針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。

5、X射線熒光光譜儀在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。 
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